コンピュータでは判別できない技術的な重要ポイントをプロの目で読み分け、採否判断と技術分類を行います。
当社では抄録・クレームベースと全文・全図ベースの二種類の査読用ブラウザ"PALS"を自社開発し、
読み飛ばしや欠落のない信頼できる査読体制でお客様に大切な特許情報をお届けいたします。
エレクトロニクス企業などで蓄積した豊富な研究開発経験に加え、技術分野ごとの社内定期特許監視を行うことにより
最新の特許動向を学び、専門スキルと土地勘を養っています。
調査ご依頼の中核技術だけでなく、お客様と合同で川上・川下にまで視野を巡らせる俯瞰作業や、分類構造検討会、
調査結果報告会（いずれもオプション）なども好評です。
◆直近の公開特許を用いたパイロット調査や中間段階での擦り合わせを行い、その後、遡及調査や深掘り調査に進むなど、段階的方式により、的確な調査、ムダのない調査を行います。
◆調査結果を利用した当社独自の"ダイナミックマップ"（特許・技術調査情報を思考展開手法で《見える化》した特許マップ）やグループワーキングにより特許・技術動向を俯瞰する特許カード作業）、戦略的発明創出支援ACTASなどのオプションを用意しており、ご好評をいただいています。
・ディスプレイ技術（液晶バックライト、有機EL、光学フィルム、タッチパネル）
・ナノ微細技術（インクジェット、ナノインプリント、MEMS/マイクロマシン技術）
・発光ダイオード（LED照明、駆動回路）
・導電性高分子・機能性高分子
・セラミックス
・接着・粘着技術
・パワーエレクトロニクス（スイッチング電源回路、デジタル制御、非接触電力伝送、充放電回路）技術
・放電灯インバータ回路
・熱対策技術
・EMCノイズ対策など
◇DMD/MEMS特許・技術動向分析
◇高集積・複合MEMS日米欧特許調査
◇特許出願技術動向調査 放電灯点灯回路（日米欧特許データ分析）
◇フラットパネルディスプレイ日米台湾特許価値調査
◇ナノテクノロジー微細周期膜関連特許の調査動向分析
◇機能デバイスとパッケージング構造特許分析と出願余地調査
◇スイッチング電源用制御IC回路日米技術・特許調査
◇Liイオン電池のハイパワー充放電技術・特許調査
◇RFID日米特許調査
・・・など
・事例紹介
① 一万四千件の特許情報から半月間で地雷探し、研究開発に現実に携わる技術者と開発路線を確認
② 独創的な研究開発テーマを探るために、特許情報から技術的課題と解決手段を俯瞰したい
③ 過去の出願動向を把握し、自社の出願領域を特定した上で、出願戦略を構築したい
④ 世界の有力発明が集中する米国特許を調べ、先端的視野で研究開発テーマを探りたい
⑤ 川下（川上）技術の全体像を特許で俯瞰、的（マト）を絞って参入余地を調べたい
⑥ 特許情報を分かりやすく表現する画期的手法｢ダイナミックマップ｣を開発！
・ご依頼からご報告までの流れ、調査費用、調査期間について
・弊社技術スタッフのご紹介
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詳しくは、お気軽にお問い合わせください。 TEL 03-3219-0899 FAX 03-3219-7066 E-Mail toiawase@neotechnology.co.jp お問い合わせフォーム |